日本王子OSI细微异物测量装置(杂点测量装置)DIP-2000
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产品名称: 日本王子OSI细微异物测量装置(杂点测量装置)DIP-2000
产品型号: DIP-2000
产品展商: 日本OSI王子
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简单介绍
日本王子OSI细微异物测量装置(杂点测量装置)DIP-2000
细微异物测量装置,DIP-2000,测量到0.5μm的细微异物。专用viewer根据图像对比的数据,一边确认使用。oji-keisoku,陕西西安,四川成都,贵州贵阳,云南昆明,重庆
日本王子OSI细微异物测量装置(杂点测量装置)DIP-2000
日本王子OSI细微异物测量装置(杂点测量装置)DIP-2000
的详细介绍
日本王子OSI细微异物测量装置(杂点测量装置)DIP-2000
细微异物测量装置,DIP-2000,测量到0.5μm的细微异物。
专用viewer根据图像对比的数据,一边确认使用
0.5μmまでの微細異物計測
オートフォーカス装置による鮮明な画像
ジョイスティック付き自動XYステージにより操作性向上
色付き粒子の測定も可能
粒径、面積、形状ほか51種類の測定項目
専用ビューアにより画像と対比しながらデータ確認が可能
画像処理部:
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コンピュータ CPU
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Pentium4以上
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OS
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Windows XP
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画像処理モジュール
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PCIバス対応フレームグラバ
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画像解像度
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640画素(H)×475画素(V)
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輝度階調
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RGB 各8bit 256階調
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分解能
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約0.5μm/画素~約10μm/画素(顕微鏡倍率による)
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ソフトウェア
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DA-7000システムソフトウェア
DIPソフトウェア
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光学系:
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金属顕微鏡
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対物レンズ5倍、10倍、20倍(測定対象により変わります)
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照明装置
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ハロゲンランプ光源
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X-Yステージ:
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駆動方式
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パルスモータ駆動
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ストローク
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150mm(X軸)×150mm(Y軸)
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その他
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2軸制御ステージコントローラ、ジョイスティック
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AF装置:
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方式
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映像信号
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その他
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全焦点画像生成機能(オプション)
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